Espectrofotômetro de Absorção Atômica Modelo AA-7050D

O AA-7050D adota um sistema de caminho óptico de duplo feixe com reflexão total, que pode concluir automaticamente a zeragem, varredura, ajuste da posição da lâmpada, ajuste da posição do espelho e equilíbrio de energia de acordo com condições como o comprimento de onda do elemento selecionado no método. Pode ser amplamente utilizado em áreas como metalurgia, petroquímica, geologia, medicina, proteção ambiental, pesquisa científica, agricultura (solo e fertilizantes), controle de doenças, alimentos, ciência de materiais e inspeção comercial. Atualmente, pode analisar mais de 70 elementos, com aplicação extremamente importante na análise de elementos em níveis de traço e ultratraço.

1. Sistema de caminho óptico de duplo feixe com reflexão total, compensação em tempo real da deriva da lâmpada de elemento, função automática de compensação de linha de base, garantindo a sensibilidade de medição, com função de emissão de chama

2. Largura de banda espectral: 0,1, 0,2, 0,4, 0,7, 1,0 e 2,0 nm, com comutação automática de fenda em seis níveis

3. Exatidão do comprimento de onda: ±0,1 nm; repetibilidade do comprimento de onda: ≤0,05 nm

4. Resolução: superior a 0,1 nm

5. Torre rotativa com 8 lâmpadas, totalmente controlada por computador, com posicionamento rápido e seleção automática da lâmpada de elemento.

6. Método de correção de fundo: lâmpada de deutério, correção de fundo por autoabsorção;

7. Fotmultiplicador de ampla faixa e alta sensibilidade

8. Estabilidade da linha de base: ≤0,003 A/30 min (dinâmico), ≤0,002 A/30 min (estático)

9. Pré-aquecimento automático da próxima lâmpada de elemento, com possibilidade de acender 2 lâmpadas simultaneamente

10. Análise por chama

Concentração característica: Cu<0,02 μg/mL; limite de detecção: Cu<0,003 μg/mL; RSD: ≤0,45%.

11. Busca automática de pico: pode concluir automaticamente a zeragem, varredura, ajuste da posição da lâmpada, ajuste da posição do espelho e equilíbrio de energia de acordo com condições como o comprimento de onda do elemento selecionado no método.