De acordo com pt.wedoany.com-A Keysight Technologies, Inc. e a WIN Semiconductors Corp anunciaram hoje o lançamento de um fluxo de trabalho conjunto de design de MMIC, com o objetivo de ajudar empresas de design de circuitos integrados monolíticos de micro-ondas (MMIC) de nitreto de gálio (GaN) a alcançar o sucesso na primeira tentativa de fabricação. Esse fluxo de trabalho integra simulação multidomínio no chip, layout e verificação 3D, e design de placas de avaliação de MMIC fora do chip em um único ambiente, apoiando um número crescente de empresas que desenvolvem MMIC de GaN para estações base 5G, pontos de acesso Wi-Fi, cargas úteis de satélites e sistemas de radar de defesa.
Falhas na fabricação geralmente significam semanas perdidas em outra rodada de refabricação pela foundry. O novo fluxo de trabalho automatiza todas as etapas de simulação, otimização e verificação necessárias para a aprovação final do design de MMIC, garantindo que todas as análises sejam concluídas antes do envio do design para a foundry.
Clientes de MMIC geralmente só se comprometem com a compra após poderem medir o desempenho de uma placa de avaliação física que inclui o MMIC, encapsulamento, PCB e conectores de teste. Esse fluxo de trabalho permite que engenheiros projetem e otimizem de forma colaborativa esses componentes no chip e fora do chip, garantindo que o desempenho atenda às especificações verificadas pelo equipamento testado. O mercado global de dispositivos de RF de GaN deve atingir US$ 2,77 bilhões até 2031, e empresas de design de MMIC que não conseguirem demonstrar desempenho em placas de avaliação correm o risco de perder participação nesse crescimento.
O mais recente kit de design de processo (PDK) NP 120P GaN da WIN Semiconductors fornece modelos de processo e regras de layout para designers de MMIC. Esses modelos estão integrados no Advanced Design System (ADS) e no RF Circuit Simulation Professional da Keysight, automatizando o fluxo de trabalho para alcançar o sucesso na primeira tentativa de fabricação de MMIC.
Richard Kuo, Diretor de Serviços de Design da WIN Semiconductors, afirmou que a colaboração com a Keysight permite oferecer uma solução personalizada de verificação de layout versus esquemático (LVS) no PDK ADS da WIN. Combinando a expertise da Keysight em ADS com o PDK e a tecnologia de processo avançada da WIN, essa solução de verificação abrangente simplifica o processo de design do cliente e acelera o tempo de lançamento de produtos avançados de RF no mercado, com maior confiança e confiabilidade.
Nilesh Kamdar, Gerente Geral de Software de Design e Engenharia EDA da Keysight, afirmou que o PDK completo da WIN, combinado com as ferramentas de simulação e verificação da Keysight, oferece aos designers um caminho único, desde o design do chip até a placa de avaliação. As empresas de design agora podem demonstrar o desempenho completo do sistema antes da fabricação, dando aos clientes confiança suficiente para fazer compromissos.
