Uma equipa internacional de investigação, composta pela Universidade de Adelaide (Austrália), pela empresa de tecnologia norte-americana Virginia Diodes Inc, pelo Instituto Hasso Plattner e pela Universidade de Potsdam (Alemanha), publicou um resultado inovador na revista IEEE Microwave Magazine. Desenvolveram um método que utiliza ondas terahertz para monitorizar remotamente a atividade elétrica no interior de chips, sem necessidade de contacto, desmontagem ou desligamento dos dispositivos eletrónicos, alcançando pela primeira vez a observação não invasiva de dispositivos semicondutores encapsulados em pleno funcionamento.
O Professor Withawat Withayachumnankul, líder do Laboratório de Engenharia Terahertz da Universidade de Adelaide, salientou: "Os semicondutores são a base da tecnologia moderna, estando presentes desde smartphones a sistemas de defesa. No entanto, após a encapsulação do chip, é difícil avaliar as suas condições internas. A maioria dos métodos de inspeção existentes depende de sondas físicas ou da interrupção do fornecimento de energia, o que não é viável em muitos cenários. Esta investigação resolve um problema de longa data na eletrónica, permitindo-nos observar externamente a atividade elétrica de semicondutores em funcionamento, sem comprometer a sua operação."
A tecnologia deteta os minúsculos movimentos de carga no interior de componentes como díodos e transístores através de ondas terahertz. Os investigadores desenvolveram um sistema de deteção ultrassensível, utilizando um recetor I/Q (em fase e em quadratura) para captar as subtis variações do sinal terahertz. O Professor Withayachumnankul explicou: "Este método permite eliminar o ruído de fundo, isolando o fraco sinal gerado pela atividade elétrica no interior do dispositivo, fornecendo uma visão em tempo real, mesmo que a área ativa esteja profundamente enterrada no encapsulamento." Os sinais confirmam ser causados por movimento elétrico real, e não por interferências térmicas ou eletrónicas. A tecnologia é aplicável a diversos componentes semicondutores, demonstrando robustez e ampla aplicabilidade.
A radiação terahertz é segura e não ionizante, oferecendo uma alternativa mais segura para deteção do que os raios-X ou métodos invasivos. O Professor Withayachumnankul enfatizou: "Isto é particularmente atrativo para aplicações críticas de segurança, como dispositivos eletrónicos de alta potência, que não podem ser facilmente desligados." A Professora de Cibersegurança do Instituto Hasso Plattner e da Universidade de Potsdam, Dra. Chitchanok Chuengsatiansup, acrescentou: "A avaliação remota e não invasiva ajuda a verificar a integridade do hardware, detetar componentes defeituosos e monitorizar sistemas com acesso restrito. Isto abre caminho para dispositivos eletrónicos com autodiagnóstico inteligente, novos métodos de monitorização e o desenvolvimento da próxima geração de chips." A tecnologia promete impulsionar o avanço da indústria de semicondutores, com aplicações em múltiplas áreas.
Detalhes da publicação: Autores: University of Adelaide; Título: New X-ray vision for electronics lets scientists monitor working chips remotely; Publicado em: IEEE Journal of Microwaves (2026).
