De acordo com pt.wedoany.com-A VIEW Micro Metrology está a promover uma série de estudos de medição internos e orientados por clientes nos seus laboratórios de sistemas nos Estados Unidos e na Ásia, com as respetivas equipas de engenharia de aplicações em fase de investigação.
O Laboratório de Avaliação de Sistemas da VIEW Micro Metrology, localizado em Rochester, Nova Iorque, está equipado com toda a gama de ferramentas de metrologia dimensional da VIEW. Esta instalação pode apoiar trabalhos de desenvolvimento interno e aplicações reais de clientes, fornecendo validação técnica e otimização de processos para embalagens avançadas de semicondutores e outros ambientes de fabrico.
Um estudo fundamental centra-se no rendimento de medição de chips de matriz de esferas (BGA) em wafers de 200 mm. Cada wafer contém cerca de 1300 chips, e cada chip possui 110 esferas de solda. O objetivo deste estudo é avaliar a eficiência de medição e a qualidade dos dados em cenários de inspeção de alto volume, com foco em: comparação da diferença de tempo de trabalho entre as receitas estroboscópicas "Mover e Medir" (MAM) e "Captura Contínua de Imagens" (CiC™) para o tamanho de esferas individuais; deteção de defeitos de posição das esferas no wafer; análise comparativa da medição da altura Z das esferas usando laser através da lente (TTL) e imagem 3D de multifoco de área (AMF™); e avaliação da repetibilidade em 25 wafers do mesmo lote. Os resultados do estudo deverão ser divulgados no final do verão.
Além dos estudos ao nível do wafer, o laboratório também está envolvido num projeto de placa de distribuição de gás, um componente utilizado no processo de deposição de wafers, semelhante a um "chuveiro" de semicondutores. Um componente semelhante para o setor aeroespacial também está a ser estudado. Os diâmetros dos orifícios de passagem na placa de distribuição de gás são geralmente superiores a 250 µm, dentro da capacidade dos sistemas de medição VIEW, mas o desafio de inspeção reside nos requisitos de uniformidade das características, precisão da posição real e do espaçamento, topologia da superfície e precisão geral da posição. A deteção de defeitos também é necessária, incluindo a identificação de orifícios obstruídos ou parcialmente obstruídos, microfissuras, cavidades, acumulação de resíduos e contaminação da superfície. O rendimento é um fator crítico para tais aplicações, envolvendo se a ferramenta de inspeção consegue atingir a velocidade de medição necessária para a produção em linha e se o fabricante pode alcançar uma inspeção de 100% sem sacrificar a qualidade.
Na Ásia, o representante autorizado da VIEW, V Eye Precision, continua a expandir o desenvolvimento de aplicações nos mercados de BGA e transceptores óticos na Tailândia, apoiando clientes na Tailândia, Singapura, Filipinas e Indonésia. O trabalho relacionado com BGA concentra-se principalmente na medição da altura das esferas e da coplanaridade, parâmetros críticos para garantir conexões elétricas fiáveis e o rendimento da montagem a jusante. Simultaneamente, a V Eye também está a avançar aplicações de metrologia para o fabrico de transceptores óticos. Os dispositivos transceptores óticos integram estruturas fotónicas submicrométricas, interfaces de fibra ótica e embalagens de precisão, com requisitos de tolerância de alinhamento extremamente elevados, onde mesmo um desvio de ±1 µm pode afetar significativamente a eficiência de acoplamento ótico.
Os estudos acima referidos da VIEW visam ajudar os clientes a impulsionar maior rendimento, melhorar a taxa de sucesso e alcançar uma inspeção fiável e escalável em ambientes de embalagem avançada. Ao permitir medições 3D precisas e rastreáveis, a metrologia VIEW transforma a inspeção de um portão de qualidade passivo para uma ferramenta de engenharia ativa, permitindo que os clientes detetem desvios subtis do processo e reduzam o retrabalho.
A VIEW Micro Metrology é uma empresa que fornece soluções integradas de metrologia de alto desempenho e alta precisão, adequadas para uso na linha de produção ou perto dela, visando principalmente os setores de semicondutores, eletrónica e médico. As suas soluções utilizam sistemas avançados de metrologia ótica sem contacto e software multifuncional para permitir aplicações precisas e de alto rendimento, sendo todas as soluções do tipo chave-na-mão, com suporte colaborativo de design e integração de produção.
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