Anritsu do Japão apresentará soluções de teste e medição de próxima geração na IMS 2026
2026-06-09 16:29
Favoritos

De acordo com pt.wedoany.com-A Anritsu exibirá seus mais recentes avanços em teste e medição na IMS 2026, a principal conferência global de RF e micro-ondas. No estande 17054, a empresa realizará demonstrações ao vivo e sessões de briefing técnico, com foco na crescente complexidade dos sistemas de banda larga e alta frequência. No seminário MicroApps da Anritsu, a aplicação da inteligência artificial em teste e medição será um tópico central.

Os instrumentos de teste e medição em exposição incluem analisadores de rede, analisadores de espectro, geradores de sinais, osciloscópios, medidores de potência e equipamentos de teste automatizados. No estande, os visitantes poderão assistir a demonstrações ao vivo voltadas para os desafios de teste da próxima geração, interagir diretamente com engenheiros e especialistas técnicos, conhecer soluções projetadas para aplicações de alta velocidade e alta frequência, e pré-visualizar inovações futuras. Engenheiros da Anritsu estarão presentes para discutir métodos práticos de teste de sistemas, precisão de medição e otimização de desempenho com os visitantes.

Anritsu apresentará soluções de teste e medição de próxima geração na IMS 2026

A Anritsu também realizará palestras programadas diariamente às 10:00 e 14:00 no estande, oferecendo insights rápidos sobre tecnologias emergentes e cenários de aplicação. Além disso, um seminário MicroApps intitulado "Inteligência Artificial Impulsionando Instrumentos de Teste e Medição de Próxima Geração" está agendado para 11 de junho, das 11:44 às 11:59, no Teatro MicroApps do salão da IMS, com o número de sessão THMA8.

Este seminário focará no papel da inteligência artificial no teste e medição modernos, demonstrando como a IA pode ajudar engenheiros a gerenciar sistemas cada vez mais complexos. A palestra explicará como a IA melhora a velocidade de medição, suporta métodos de teste mais escaláveis e fornece insights mais profundos a partir de conjuntos de dados vastos e complexos. À medida que a complexidade dos sistemas de RF e sem fio continua a crescer, métodos de teste mais eficientes e inteligentes estão se tornando indispensáveis.

Este texto foi elaborado por Wedoany. Qualquer citação por IA deve indicar a fonte “Wedoany”. Em caso de infração ou outros problemas, informe-nos prontamente, por favor. O conteúdo será corrigido ou removido. E-mail: news@wedoany.com