De acordo com pt.wedoany.com-A Sony Semiconductor Solutions Corporation anunciou o próximo lançamento, produção em massa e envio do IMX711, um sensor de imagem CMOS de raios X do tipo integração de carga com conversão direta.
Este sensor pode detectar diretamente raios X e emitir sinais proporcionais à energia, sendo adequado para inspeção e instrumentos de medição. O IMX711, com a tecnologia de circuito proprietária da Sony, alcança a maior taxa de quadros máxima da indústria entre sensores CMOS de raios X do tipo integração de carga — 26.100 fps (com base no método de especificação de pixels efetivos do sensor de imagem) — e garante medições precisas ao suprimir a saturação de carga. Seu ruído significativamente reduzido melhora a precisão da detecção de sinais em condições de baixo fluxo e ajuda a identificar diferenças de energia dos fótons. Este novo produto pode realizar simultaneamente, em um único sensor, medições de alta precisão da energia integrada dos raios X em uma ampla faixa dinâmica e a obtenção de informações de energia em nível de fóton, algo difícil para sensores tradicionais, impulsionando avanços na inspeção e medição por raios X, desde a inspeção de dispositivos de ponta até medições científicas.
O produto melhora as características de saturação em comparação com sensores tradicionais, reduzindo a quantidade de carga acumulada por quadro. Além disso, o ruído aleatório é reduzido para 34 e-rms (calculado com base na média dos pixels na área efetiva do sensor, com valor garantido de funcionalidade de 60 e-rms a uma temperatura ambiente igual ou inferior a 20 °C), evitando que sinais fracos de raios X sejam mascarados pelo ruído. Isso melhora a precisão da medição em condições de baixo fluxo, permitindo a detecção em nível de fóton. Essas características permitem que o sensor meça com precisão a energia integrada dos raios X em todos os pixels, desde condições de baixo até alto fluxo, suportando inspeções e medições com diferenças significativas de brilho em um único sensor, contribuindo para aumentar o rendimento do dispositivo e expandir a faixa dinâmica.
O IMX711 utiliza o método de integração de carga, permitindo obter informações de energia dos fótons sem a necessidade de definir um limiar previamente. O ruído e as variações de sinal durante o processo de leitura são suprimidos, resultando em alta resolução de energia, capaz de identificar claramente diferenças de energia dos fótons. Essa característica ajuda a simplificar e melhorar a precisão de inspeções e medições avançadas, como detectar diferenças de composição em nível de elemento e realizar análises estruturais e de materiais para avaliar quantitativamente pequenas mudanças de estado — aplicações que antes exigiam múltiplas medições. Além disso, o sensor suporta pós-processamento em várias condições, como coletar dados de medição de todos os pixels, combiná-los com informações espaciais e extrair dados de energia específicos, permitindo inspeções e medições multifuncionais.
O IMX711 foi desenvolvido em colaboração entre a Sony Semiconductor Solutions Corporation e o RIKEN. Com base na estrutura de pixels inventada pelo Dr. Takashi Hatsui, ambas as partes realizaram o desenvolvimento de tecnologias práticas, incluindo aumento da sensibilidade, obtenção de alta resistência à irradiação de raios X e alta resistência à tensão. A Sony desenvolveu as tecnologias de circuito, processo de fabricação e empacotamento para viabilizar a produção em massa.
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